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AOI避坑：看懂误报漏检背后的逻辑

AOI避坑不能停留在“多拍几张图”或“调低阈值”。真正决定检测效果的，是光学成像、缺陷定义、样本分布、程序维护和生产闭环共同作用的结果。本文从底层原理拆解常见问题，说明为什么演示效果很好，上线后仍会出现误报、漏检和效率下降。